數字式立式光學計報價（被測件0～180mm，小示值0.1µm）型號:JDG-S2庫號：M405347
JDG-S2 數字式立式光學計
被測件0～180mm，zui小示值0.1µm
一、用途數字式立式光學計JDG-S2是一般是用標準器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀量具和零件的外形尺寸作測量

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數字式立式光學計報價 數字式立式光學計報價（被測件0～180mm，小示值0.1µm）型號:JDG-S2庫號：M405347

JDG-S2 數字式立式光學計

被測件0～180mm，zui小示值0.1µm

一、用途

數字式立式光學計JDG-S2是一般是用標準器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀量具和零件的外形尺寸作測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，過程控制及在線測量等方面，對被測件作微小位移測量，及對非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測量。

主要參數

被測件*大長度： 200mm

直接測量范圍： 10mm

zui小顯示值： 0.1μm

測量力： (2±0.2)N

示值變動性： 0.1μm

zui大不準確度： ±0.25μm

讀數方式：數字顯示

zui大測量誤差是： ±(0.5+L/100)μm ，L是被測長度,以mm計

儀器體積： 300×170×410mm

儀器重量：18 kgs

主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀量具和零件的外形尺寸作測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，過程控制及在線測量等方面，對被測件作微小位移測量，及對非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測量

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